ConfoSurf CLV150

3D-Messtechnik für die Oberflächenanalyse

Das ConfoSurf CLV150 von Confovis besticht durch gestochen scharfe Details und präzise Messungen bis in den Nanometer-Bereich in Kombination mit einer kompakten Bauweise. Je nach Aufgabenstellung werden die Konfokaleinheit und/oder die Fokusvariation genutzt. Rauheits-, Topographie- oder Mikrostruktur-Messungen mit einer Tiefenauflösung bis in den nm-Bereich. Mit einem Mess- und Arbeitsbereich bis zu 30 mm in der Höhe stellt das Standardmesssystem vor allem für kleine Proben mit einem Maximal-Gewicht von 1,5 kg die passende Lösung dar.

Hauptmerkmale

  • Messungen bis in den nm-Bereich
  • Rauheit profilbasiert nach DIN ISO 4287/4288 und flächenbasiert nach DIN ISO 25178 rückführbar
  • Texturrichtung / Isotrophy
  • 2D- und 3D-Charakterisierung von Oberflächenmerkmalen durch schnellen Flächenscan
  • Nahezu artefaktfreie Messungen, durch geringe Kohärenz und Speckle-Effekte
  • Messung unterschiedlichster Oberflächen und Materialien, sogar spiegelnde Flächen und transparente Schichten
  • Normgerechte und rückführbare Rauheitsmessungen
  • Bedienerfreundliche Mess-Software ConfoVIZ
  • Auswertung über etablierte Analyse-Software MountainsMap, Polyworks, GOM

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