JEOL JCM-6000Plus NeoScope

Benchtop-Rasterelektronenmikroskop

Das JCM-6000Plus „NeoScopeTM“, das neueste der REM Tischsysteme, ist ein multifunktionales Rasterelektronenmikroskop mit Touchscreen-Bedienung. Das JCM-6000Plus ist mit dem gleichen hochempfindlichen Halbleiter-Detektor ausgestattet, der in höchstauflösenden REMs eingesetzt wird. Dadurch können nun neben der Darstellung und Topografie der Probe auch plastisch wirkende Aufnahmen erzeugt werden, die eine schnelle Erstellung von Analysen ermöglichen. Das Gerät verfügt auch über einen Sekundärelektronen-Detektor, um feinste Oberflächendetails aufzulösen. Für die Abbildung elektrisch isolierender Proben wird der Niedervakuum-Modus verwendet.

Hauptmerkmale

  • Vergrößerung: 10x bis zu 60.000x
  • Sekundärelektronen-Detektor (SE), Rückstreu-Elektronen-Detektor (BSE), Betrieb im Hoch- und Niedervakuum
  • Beschleunigungsspannung: 5kV / 10 kV / 15 kV
  • Emitter: Wolfram-Quelle
  • Probenbühne: 2-Achsen-Bühne (manuell)
  • Verfahrwege: X: 35mm, Y: 35mm
  • Maximaler Probendurchmesser: 70mm
  • Maximale Probenhöhe: 50mm
  • Automatische Funktionen: Fokus, Stigma, Kontrast/Helligkeit, Emitter-Optimierung
  • Bedienung: Touch-Display bzw. Tastatur & Maus
  • Bildformat: 1280 x 1024 Pixel

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