JEOL JCM-7000 Zubehör

Zubehör für Benchtop SEM

  • Probenhalter mit Kipp-/Rotationsantrieb - ermöglicht eine gut fokussierte morphologische 3D-Betrachtung der Probe aus verschiedenen Neigungswinkeln und Drehrichtungen
  • Energiedispersives Röntgenspektrometer - EDS - für die Elementaranalyse
  • Motorischer X/Y Objekttisch - zur exakten Positionierung ihrer Probe
  • Jeol Smart Coater - vollautomatische Sputterbeschichtungsanlage, die feinzerstäubte Beschichtungen auf Proben für die Abbildung in einem Rasterelektronmikroskop aufträgt. Das vollautomatische Vakuum und Sputtern machen den JEOL Smart Coater einfach in der Bedienung. Sie müssen nur das Objekt hineinstellen, die Anlage einschalten und die Sputterzeit auswählen
  • Farb-Navigationskamera - SNS
  • Vollautomatische Partikelanalyse-Software

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