Das “JCM-7000 Neoscope“ Benchtop-Rasterelektronenmikroskop wurde entwickelt, um ein sehr einfach zu bedienendes REM mit intuitiver Navigation und Echtzeit-Elementeanalyse anzubieten.
Das JCM-7000 Neoscope beinhaltet drei innovative Funktionen: “Zeromag" für den flüssigen Übergang zwischen optischer und REM Darstellung, "Live Analysis" für die Echtzeit-Elementeanalyse und "Live 3D" für die Darstellung eines rekonstruierten Live-3D Bildes während der REM Beobachtung.
Benchtop-Rasterelektronenmikroskope werden in vielen Bereichen eingesetzt, wie etwa der Elektro-, Elektronik-, Automobil-, Maschinen-, Chemie- und Pharmabranche. Darüber hinaus erstrecken sich REM-Anwendungen nicht nur auf Forschung und Entwicklung, sondern auch auf Qualitätskontrolle und Produktprüfung an Produktionsstandorten. Damit steigen die Forderungen nach weiter verbesserter Arbeitseffizienz, wesentlich schnellerer und einfacherer Bedienung sowie einem höheren Maß an Analyse- und Messmöglichkeiten.
Basierend auf den sehr erfolgreichen und preisgekrönten Vorgängern, den REMs der InTouchScopeTM-Serie, hat JEOL das neue Benchtop-REM Neoscope JCM-7000 entwickelt, um steigenden Anforderungen auf dem Markt gerecht zu werden. Die JCM-7000-Serie verfügt über innovative Funktionen, die mit denen der InTouchScopeTM-Serie vergleichbar sind.