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Nikon Eclipse LV100N POL

Ergonomisch optimiertes Polarisationsmikroskop

Das Nikon Eclipse LV100N POL ist ein modulares Polarisationsmikroskop für Auf‑ und Durchlicht mit CFI60-Unendlichoptik, fokussierbarer Bertrand-Linse, 360°-Drehtisch und Fly‑Eye Halogen- bzw. LED‑Beleuchtung.

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Nikon Eclipse LV100N POL

Professionelle Polarisationsmikroskopie mit ergonomischem Stativdesign

Das Nikon Eclipse LV100N POL kombiniert hochwertige CFI60-Unendlichoptik mit einer modularen Bauweise und ergonomischem Stativ für vielseitige Anwendungen in Materialanalyse, Forensik und Forschung. Mit einem 360°-Drehtisch samt 45°-Einrastungen, einem fokussierbaren sowie einem zentrierbaren Bertrand-Einschub erhalten Sie höchste Präzision bei konoskopischen und orthoskopischen Methoden. Die innovative Fly‑Eye Beleuchtung (Halogen/LED) liefert gleichmäßige, helle Bilder bei minimaler Wärmeentwicklung – ideal für stabile und thermisch unkritische Fokussierung. Ein 30 mm Fokussierweg erlaubt den Einsatz großer Präparate.

Hauptmerkmale

Exakter Drehtisch mit Arretierung

Der präzise 360°-Rundtisch verfügt über eine Skalierung in 1°-Schritten und zuverlässige 45°-Rastpunkte – ideal für reproduzierbare Winkelmessungen und Mineralanalysen.

30 mm langer Fokussierhub

Die Stative LV100N POL LED und Ci-POL eignen sich für große, unförmige Proben dank des extra langen Fokusbereichs von 30 mm, der über den normalen Bereich bei Durchlichtmikroskopen hinausgeht.

Fly-Eye Beleuchtungssystem für gleichmäßiges Licht

Die innovative Halogen- oder LED-Beleuchtung mit Fly-Eye-Linse sorgt für homogen ausgeleuchtete Bildfelder – auch bei langem Einsatz ohne Wärmedrift.

Nikon CFI60-POL und CFI60-2 POL Objektive

Die innovativen, spannungsfreien POL-Objektive von Nikon mit hohem Arbeitsabstand und hoher NA liefern klare, kontrastreiche Bilder für den Beobachter und die Digitalkamera.

Vollständiges Sortiment an optischem Zubehör

Ein umfassendes Angebot an Zubehör für die quantitative Analyse wird durch Berek-, Senarmont- und Quarz-Keilkompensatoren bereitgestellt, die durch einen Objekttisch mit Nonius-Skala unterstützt werden.