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EDF – Extended Depth of Focus

Automatische Schärfentiefe-Erweiterung für gestochen scharfe Mikroskopieaufnahmen

Das NIS-Elements Modul "EDF - Extended Depth of Focus" kombiniert mehrere Fokusebenen zu einem vollständig fokussierten Bild. Ideal für Proben in Schräglage oder unebener Oberfläche.

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EDF – Extended Depth of Focus

Maximale Tiefenschärfe auf Knopfdruck

Mit dem EDF-Modul (Extended Depth of Focus) lassen sich scharfgestellte Bereiche aus mehreren Fokusebenen automatisch extrahieren und zu einem durchgängig fokussierten Gesamtbild zusammenführen. Auf Basis einer Z-Stapelaufnahme kombiniert die Software gezielt die jeweils schärfsten Bildinformationen und erzeugt so eine detailreiche Darstellung mit deutlich erweiterter Tiefenschärfe.

Die intuitive Benutzeroberfläche unterstützt einen schnellen und präzisen Workflow – sowohl bei manueller Fokussierung als auch bei motorisierter Z-Stack-Erfassung. Selbst bei stark strukturierten oder topografisch anspruchsvollen Proben entstehen klare, kontrastreiche Ergebnisse, die sich direkt für Dokumentation, Analyse oder weiterführende Messaufgaben nutzen lassen.

Hauptmerkmale

Flexible Anwendung – manuell oder motorisiert

Das EDF-Modul kann sowohl mit manuell fokussierten Mikroskopen als auch mit motorisierten Systemen eingesetzt werden. Beim manuellen Drehen des Fein- oder Grobtriebs entsteht nach Aktivierung des Moduls ein durchfokussiertes 2D-Bild – ideal für schnelle Dokumentation ohne Höhenanalyse.

Automatisierte Z-Stack-Aufnahme mit Motorisierung

In Kombination mit einem motorisierten Mikroskop oder einem am Mikroskop adaptierten Z-Motor, wird die Stapelaufnahme vollständig automatisiert durchgeführt. Dies ermöglicht eine reproduzierbare Datenerfassung und eine deutliche Effizienzsteigerung im Routinebetrieb.

2D-Fokusfusion und topografische 3D-Information

Während bei manueller Anwendung ein rein durchfokussiertes 2D-Bild erzeugt wird, liefert die motorisierte Z-Stack-Erfassung zusätzlich ein 3D-Modell mit Höheninformationen. So können neben der optischen Darstellung auch topografische Auswertungen erfolgen.

Verbesserte Bildqualität bei komplexen Proben

Durch die intelligente Kombination mehrerer Fokusebenen entsteht ein scharfes Gesamtbild selbst bei stark strukturierten Proben. Details bleiben über die gesamte Tiefenausdehnung sichtbar.

Nahtlose Integration in Mess- und Analyseprozesse

Das erzeugte EDF-Bild – ob 2D oder 3D – kann direkt in weitere NIS-Elements-Analyse- und Messmodule eingebunden werden. Dadurch wird ein durchgängiger Workflow von der Aufnahme bis zur quantitativen Auswertung ermöglicht.