Nikon Eclipse LV100AMS

Das vollautomatisierte, KI-gestützte Industriemikroskop für reproduzierbare Analysen mit einem Klick

Das Nikon Eclipse LV100AMS ist ein vollautomatisiertes KI-gestützte Industriemikroskop das auf Knopfdruck absolut verlässliche Prüfergebnisse liefert. Es schließt benutzerbedingte Abweichungen aus und minimiert menschliche Fehler.

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Nikon Eclipse LV100AMS

Vollautomatisiertes und KI-gestütztes Industriemikroskop

Das ECLIPSE LV100AMS vereint motorisierte Steuerung, automatisierte Bildaufnahme und KI-gestützte Analyse in einem durchgängigen System – für reproduzierbare Ergebnisse unabhängig vom Bediener. Das integrierte Softwarepaket deckt den gesamten Prüfablauf ab: von der automatisierten Bilderfassung über die Auswertung bis zur fertigen Dokumentation.
Dank konfigurierbarer Inspektionsroutinen lässt sich das System flexibel einsetzen – von der Einzelprüfung im Labor bis zur wiederkehrenden Qualitätskontrolle in der Produktion.

Hauptmerkmale

Vollautomatische Inspektion per Mausklick

Mit nur einem Klick laufen selbst komplexe Prüfabläufe und hochentwickelte Bildanalysen vollautomatisch ab. Dies schließt benutzerbedingte Abweichungen aus und minimiert menschliche Fehler. Auf diese Weise werden wiederholbare, standardisierte Prüfungen über verschiedene Standorte hinweg ermöglicht.

Präzisions-Hardware und optische Kontrastverfahren

Das System kombiniert eine hochauflösende 23,9-Megapixel-Farbkamera, einen motorisierten XY-Tisch mit 100 x 100 mm Verfahrbereich sowie eine motorisierte Z-Achse zur präzisen Abbildung in Hellfeld, Dunkelfeld, DIC oder Polarisierung mit einer bis zu 6700-fachen digitalen Vergrößerung auf einem 28-Zoll-UHD-Display.

Technische Sauberkeit nach ISO und VDA

Ein Softwaremodul übernimmt den kompletten Arbeitsablauf vom automatisierten Scannen der Filtermembranen über die Partikeldetektion bis hin zur fertigen, normgerechten statistischen Auswertung und visuellen Dokumentation gemäß ISO 16232, ISO 4406 und VDA 19.

KI-gestützte Korngrößen- und Gefügeanalyse

Die intelligente, anwenderunabhängige Mikrostrukturanalyse automatisiert die Bestimmung von Korngrößen nach ASTM E112 und ISO 643 sowie die Klassifizierung der Graphitmorphologie, Nodularität, Sphäroidisierungsrate und des Gefügeanteils in Gusseisen nach ISO 945-4 und ASTM A247.