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Eclipse LV100ND-LED

Modulares Auf- und Durchlichtmikroskop – das Nikon Eclipse LV100ND-LED

Das Nikon Eclipse LV100ND-LED ist ein Auf- und Durchlichtmikroskop mit vielseitigen Kontrastmethoden. Es ermöglicht präzise Materialanalysen und eignet sich ideal für anspruchsvolle Anwendungen in der Forschung und Industrie.

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Eclipse LV100ND-LED

Die perfekte Lösung für anspruchsvolle Materialanalysen

Das Nikon Eclipse LV100ND ist ein Mikroskop in manueller Ausführung mit Auf- und Durchlichtbeleuchtung, das aufgrund seiner modularen Bauweise Industriezweige übergreifend allen Anforderungen der modernen optischen Mikroskopie gerecht wird. Je nach Ausstattung können verschiedenste Kontrastverfahren abgedeckt werden. Ein höheres Auflösungsvermögen und ein größerer Arbeitsabstand als je zuvor sind der Garant für eine überragende Leistungsfähigkeit des Nikon Optiksystems CFI60-2 und eine effiziente digitale Bildgebung die es zu einem unverzichtbaren Werkzeug in der Vermessung und Dokumentation machen.

Hauptmerkmale

Hochwertige CFI60-2 Optiken

Die Nikon CFI60-2 Objektivserie liefert exzellente Bildqualität mit hohem Kontrast über das gesamte Sichtfeld. Mit speziellen Objektivserien für große Arbeitsabstände sind auch Proben mit komplexen Geometrien problemlos prüfbar.

Vielseitige Kontrastmethoden

Das Mikroskop unterstützt eine breite Palette optischer Kontrastmethoden wie Hellfeld, Dunkelfeld, Polarisation und Differenziellem Interferenzkontrast (DIC). Dadurch lassen sich verschiedenste Materialstrukturen sichtbar machen, was für umfangreiche Analysen und Qualitätsprüfungen essenziell ist.

Modularer Aufbau und Erweiterbarkeit

Das modulare Design des Systems erlaubt die flexible Zusammenstellung von Komponenten und Zubehör, angepasst an die jeweiligen Anforderungen. Somit kann das Mikroskop jederzeit mit zusätzlichen Funktionen oder Komponenten erweitert werden, ohne die Basiseinheit zu ersetzen.

Ergonomisches und anwenderfreundliches Design

Die Bedienelemente und der variable Einblickwinkel sind ergonomisch angeordnet, um komfortables Arbeiten auch über längere Zeiträume zu ermöglichen. Dadurch wird die Benutzerfreundlichkeit gesteigert und Ermüdung reduziert, was insbesondere bei intensiven Prüfaufgaben von Vorteil ist.