Kontaktieren

Eclipse L200N / L200ND

8“ / 200mm Halbleitermikroskop für Wafer-Inspektion

Das Nikon Eclipse L200N ist ein robustes und vielseitiges Auflichtmikroskop, ideal für Materialforschung und industrielle Anwendungen.

mehr erfahren

Downloads

Eclipse L200N / L200ND

Höchste Präzision für Ihre Materialanalyse mit dem Nikon Eclipse L200N

Die Nikon Mikroskope der Baureihe Eclipse L200N/L200ND (L200N für Auflicht / L200ND für Auf- und Durchlicht) sind hochpräzise und zuverlässige Systeme für die Inspektion und Review von 8“/200mm Wafern. Die Nikon CFI60-2 Objektive liefern dank des hohen Auflösungsvermögens brillante, helle und scharfe Bilder. Die hohen Arbeitsabstände der CFI60-2 Objektive ermöglichen einfache Zugänglichkeit und gleichzeitig Schutz der Wafer. Die Nikon Eclipse L200N und L200ND Mikroskope können mit dem Nikon Wafer-Handling System NWL-200 erweitert werden.

Hauptmerkmale

Vielseitige Kontrastmethoden

Unterstützt Hellfeld, Dunkelfeld, Polarisation und weitere Kontrastverfahren, um vielfältige Proben zu analysieren. So lassen sich unterschiedliche Oberflächen und Strukturen gezielt hervorheben.

L200ND mit Durchlicht

Das L200ND erweitert die Möglichkeiten durch zusätzlich integrierte Durchlichtmikroskopie, ideal für dünne Proben und unterschiedliche Analysebedürfnisse. Damit wird das System für zusätzliche Probenarten und Anwendungen noch flexibler.

Robustes und benutzerfreundliches Design

Bietet eine ergonomische Benutzeroberfläche für eine bequeme Handhabung und langanhaltenden Einsatz in industriellen Umgebungen. Das unterstützt effiziente Abläufe auch bei wiederkehrenden Prüfaufgaben.

Erweiterbarkeit für verschiedene Anwendungen

Das Mikroskop ist flexibel und lässt sich für verschiedenste Forschungs- und Analyseanforderungen anpassen, mit Erweiterungen für fluoreszenzbasierte Anwendungen und mehr.