Aufrechte Mikroskope

Die aufrechten Mikroskope der Nikon LV- und L-Serie eignen sich dank ihrer hervorragenden optischen Leistungsfähigkeit und der breiten Auswahl an Zubehör für ein vielfältiges Spektrum an Anwendungen in der Materialuntersuchung – von der routinemäßigen Qualitätskontrolle bis hin zu anspruchsvollen materialwissenschaftlichen Untersuchungen.

Alle aufgeführten Mikroskope der Nikon LV- und L-Serie lassen sich nahtlos in die Nikon Analysesoftware NIS-Elements integrieren. Motorisierte und intelligente Komponenten eröffnen komfortable, automatisierte Workflows und sorgen für höchste Effizienz und Reproduzierbarkeit. Ergänzt wird das System durch eine Vielzahl leistungsstarker Softwaremodule, darunter EDF (Erweiterte Tiefenschärfe), Image Stacking zur Erstellung hochauflösender Großbilder sowie zahlreiche weitere Optionen für professionelle Analyse, Dokumentation und Präsentation.